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比表面及孔隙率(总孔体积)测定仪(V-Sorb 2800)

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有效期至: 长期有效
最后更新: 2017-10-19 02:35
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“比表面及孔隙率(总孔体积)测定仪(V-Sorb 2800)”参数说明

测试方法: BET法比表面积(多点及单点)分析 重复精度: ≤ ±1.5 %
最小测定范围: 0.001㎡/g 型号: V-Sorb 2800
规格: 1390×120×2813 商标: 金埃谱-GAPP
包装: 比表面及孔隙率(总孔体积)测定仪 尺寸: 长70×宽70×高85(CM)

“比表面及孔隙率(总孔体积)测定仪(V-Sorb 2800)”详细介绍

  比表面及孔隙率(总孔体积)测定仪提高测试精度措施

  1)采用与同类进口产品相同品牌的高精度硅薄膜压力传感器,压力测量精度为相应读数的0.15%,远远优于0.15%的全量程精度(FS)传感器;

  2)与国外同类产品类似,采用0-1000Torr压力传感器测量压力,大大降低了测量误差,硅薄膜压力传感器精度远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计(一般误差为10%-15%);

  3)独创的一体化集装式管路系统,采用进口集装管路,显著减少管路连接点,大大减少死体积空间,有利于降低测量误差;

  4)独创的步进式液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差;

  5)独特设计的抽气及进气控制系统,有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅,确保测试气路的清洁和样品质量无损失,保护高精度压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移;

  比表面及孔隙率(总孔体积)测定仪V-Sorb 2800是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径检测仪器,采用静态容量法测试原理,众多著名科研院所及500强企业应用案例,相比国内同类产品,金埃谱比表面及孔隙率(总孔体积)测定仪多项独创技术的采用使产品整体性能更加完善,金埃谱比表面及孔隙率(总孔体积)测定仪测试结果的准确性和一致性进一步提高,金埃谱比比表面及孔隙率(总孔体积)测定仪测试过程的稳定性更强,金埃谱比表面及孔隙率(总孔体积)测定仪达到国际同类产品先进水平,部分功能超越国外产品。

  金埃谱科技是国内最早参与比表面积标准物质标定的机构,测试结果与国外数据可比性平行性最好,并获取权威认证机构的检测证书,同时金埃谱科技也是国内同行业中现金注册资本规模最大,唯一通过ISO9001质量认证的生产型企业,雄厚实力和完善的质量及服务体系,让您选购的产品无后顾之忧!

  全自动比表面及孔隙率(总孔体积)测定仪性能参数

  测试方法及功能:氮吸附静态容量法,吸附及脱附等温线测定,BJH总孔体积及孔径分布分析,样品真密度测定,t-plot图法微孔分析,MP法微孔分析,BET法比表面积测定(单点及多点),Langmuir法比表面积测定,平均粒径估算,t-plot图法外比表面积测定;

  测试模式:V-Sorb独创的集成“单一氮气测试模式”和“氮气+氦气标准测试模式”于一体,供客户根据实际需要选择使用;采用“氮气+氦气标准测试模式”,符合国际标准,可确保结果的准确性和一致性,且操作简单;对于低温下可吸附氦气的样品,不适宜采用氦气测定自由空间,可通过采用“单一氮气测试模式”获得理想的测试结果。

  测定范围:0.01(㎡/g)--至无上限(比表面积),0.35nm-400nm(孔径);

  测量精度:重复性误差小于1.5%

  真空系统:V-Sorb独创的集装式管路及电磁阀控制系统,大大减小管路死体积空间,提高检测吸附气体微量变化的灵敏度,从而提高孔径分析的分辨率;同时集装式管路减少了连接点,大大提高密封性和仪器使用寿命

  液位控制:V-Sorb独创的液氮面控制系统,确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变,彻底消除因死体积变化引入的测量误差

  控制系统:采用可编程控制器电磁阀控制系统,高集成度和抗干扰能力,提高仪器稳定性和使用寿命

  样品数量:同时进行2个样品分析和2个样品脱气处理,样品测试系统和样品处理系统必需相互独立,并且样品测试和样品脱气处理必需可以同时进行,避免了测试管路受到污染,从而进一步确保测试的精度和提高仪器使用寿命

  压力测量:采用原装进口压力传感器测量压力,显著提高 P/Po点的测试精度,0-1000Torr(0-133Kpa),必须提供进口检测证书;

  压力精度:进口硅薄膜压力传感器,精度达实际读数的0.15%,优于全量程的0.15%,远高于皮拉尼电阻真空计精度(一般误差为10%-15%)

  真空泵:真空泵内置仪器中,且通过软件根据实验需要自动控制真空泵启停,从而延长真空泵的寿命。

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